美國TSI 3330光學顆粒物粒徑譜儀是基于氣溶膠儀器設計的經驗設計而成，使用簡單輕便，對顆粒能夠快速和準確的測量。

美國TSI 3330光學顆粒物粒徑譜儀 產品簡介

TSI3330型光學顆粒物粒徑譜儀簡單輕便，能夠對顆粒物濃度和粒徑譜分布進行快速和準確的測量。基于TSI40年氣溶膠儀器設計的經驗，

本款產品使用120度光散射角收集散射光強度和*密的電子處理系統(tǒng)，從而得到高質量和高精度的數(shù)據(jù)。

同時，TSI工廠嚴格的標定標準也確保儀器的精性。3330不僅可以單獨使用，而且還可以放入TSI的外場環(huán)境箱中在野外使用。

美國TSI 3330光學顆粒物粒徑譜儀 產品特點：

0.5微米時粒徑分辨率小于5%

粒徑通道用戶可調

檢測粒徑范圍：0.3-10微米，很多16通道

顆粒物粒徑感應范圍：0.5至25 mm

檢測濃度范圍：0-3000 個 /cm3

彩色觸摸屏，直觀的用戶界面

完全滿足ISO 21501-01/04要求

輸入折射率和密度可以同時顯示顆粒物數(shù)濃度和質量濃度

收集的采樣膜可進行稱重測量和化學分析

電池電量可供20小時的操作

很多可存儲30000個數(shù)據(jù)

記錄每個樣品的溫度和壓力

美國TSI 3330光學顆粒物粒徑譜儀 技術參數(shù)

測量原則 ：
120°光散射和濾膜采樣
濃度限制：
很高3,000個/ cm3 （3,000,000個/L）
質量濃度 ：
0.001-275,000 mg/m3
顆粒物粒徑：
檢測粒徑范圍：0.3-10 mm 
粒徑分辨率：0.5mm時5%（符合ISO 21501-01/04）
粒徑通道 ：很多16通道，用戶可調